納米傅里葉紅外光譜儀

------具有10nm空間分辨率的納米級紅外光譜儀

現(xiàn)代化學的一大科研難題是如何實現(xiàn)在納米尺度下對材料進行無損化學成分鑒定。現(xiàn)有的一些高分辨成像技術，如電鏡或掃描探針顯微鏡等，在一定程度上可以有限的解決這一問題，但是這些技術本身的化學敏感度太低，已經無法滿足現(xiàn)代化學納米分析的要求。而另一方面，紅外光譜具有很高的化學敏感度，但是其空間分辨率卻由于受到二分之一波長的衍射極限限制，只能達到微米級別，因此也無法進行納米級別的化學鑒定。 

    近期neaspec公司利用其*的散射型近場光學技術發(fā)展出來的nano-FTIR納米傅里葉紅外光譜技術，使得納米尺度化學鑒定和成像成為可能。這一技術綜合了原子力顯微鏡的高空間分辨率，和傅里葉紅外光譜的高化學敏感度，因此可以在納米尺度下實現(xiàn)對幾乎所有材料的化學分辨。因而，現(xiàn)代化學分析的納米新時代從此開始。 

散射型近場技術通過干涉性探測針尖掃描樣品表面時的反向散射光，同時得到近場信號的光強和相位信號。當使用寬波紅外激光照射AFM針尖時，即可獲得針尖下方10nm區(qū)域內的紅外光譜，即nano-FTIR.

納米傅里葉紅外光譜儀

在不使用任何模型矯正的條件下，nano-FTIR獲得的近場吸收光譜所體現(xiàn)的分子指紋特征與使用傳統(tǒng)FTIR光譜儀獲得的分子指紋特征吻合度*（如下圖），這在基礎研究和實際應用方面都具有重要意義，因為研究者可以將nano-FTIR光譜與已經廣泛建立的傳統(tǒng)FTIR光譜數(shù)據庫中的數(shù)據進行對比，從而實現(xiàn)快速準確的進行納米尺度下的材料化學分析。對化學成分的高敏感度與超高的空間分辨率的結合，使得nano-FTIR成為納米分析的*工具。

應用案例：

 對納米尺度污染物的化學鑒定

AFM表面形貌圖像 (左), 在Si片基體（暗色區(qū)域Ｂ）與PMMA薄膜（Ａ）之間可以觀察到一個小的污染物。機械相位圖像中（中），對比度變化證明該污染物的是有別于基體和薄膜的其他物質。將點Ａ和Ｂ的nano-FTIR 吸收光譜（右），與標準紅外光譜數(shù)據庫對比， 獲得各部分物質的化學成分信息. 每條譜線的采集時間為7min

    nano-FTIR 可以應用到對納米尺度樣品污染物的化學鑒定上。下圖顯示的Si表面覆蓋PMMA薄膜的橫截面AFM成像圖，其中AFM相位圖顯示在Si片和PMMA薄膜的界面存在一個100nm尺寸的污染物，但是其化學成分無法從該圖像中判斷。而使用nano-FTIR在污染物中心獲得的紅外光譜清晰的揭示出了污染物的化學成分。通過對nano-FTIR獲得的吸收譜線與標準FTIR數(shù)據庫中譜線進行比對，可以確定污染物為PDMS顆粒。 

技術參數(shù)配置：