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SpraySpy德國AOM噴霧顆粒分析監(jiān)測儀
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產品型號
SpraySpy德國AOM
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廠商性質
生產廠家
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更新時間
2024-08-19
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瀏覽次數
1750
產品描述
噴霧顆粒分析監(jiān)測儀
德國AOM系統(tǒng)公司名稱來源于“Advance Optical Measurement Systems“,即先進的光學測量系統(tǒng),AOM公司作為噴霧監(jiān)測技術的發(fā)明者,為噴霧或粉體顆粒的特性描述提供了創(chuàng)新的探測器和測量系統(tǒng),并獲得了2015年德國工業(yè)獎。此系統(tǒng)采用時間漂移技術實時監(jiān)測噴霧的過程中液滴或粉體顆粒的大小,速度,動量或流量密度等特性,為噴霧或粉體顆粒的監(jiān)測提供了*的測量
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Zetaview _Particle M納米顆粒跟蹤分析儀
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產品型號
Zetaview _Particle M
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廠商性質
生產廠家
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更新時間
2024-08-19
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瀏覽次數
3764
產品描述
納米顆粒跟蹤分析儀
Zetaview所具備的單一顆粒跟蹤技術,結合經典微電泳技術和布朗運動成為現代的分析手段。自動校準和自動聚焦功能,讓用戶眼見為實,更加直觀人性化。通過子體積的掃描,來自于數以千計的顆粒的zeta電位和粒徑柱狀圖的結果就可以計算出來。此外,顆粒濃度也可以通過視頻計數分析得到。
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Stabino_Particle Met顆粒電位滴定及粒度分析儀
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產品型號
Stabino_Particle Met
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廠商性質
生產廠家
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更新時間
2024-08-19
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瀏覽次數
1648
產品描述
顆粒電位滴定及粒度分析儀
分散體中,同性帶電離子的靜電排斥作用是分散體避免凝聚保持穩(wěn)定的主要原因,故帶電粒子界面的表征是*的。當顆粒離子化后,總電荷和電荷密度是需要知道的重要參數。電荷測量是通過建立動電信號來完成的。
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Nanotrac waveZeta電位及納米粒度分析儀
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產品型號
Nanotrac wave
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廠商性質
生產廠家
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更新時間
2024-08-19
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瀏覽次數
2294
產品描述
Zeta電位及納米粒度分析儀
麥奇克(Microtrac Inc.)是世界上Z著名的激光應用技術研究和制造廠商,其先進的激光粒度分析儀已廣泛應用于水泥,磨料,冶金,制藥,石油,石化,陶瓷,軍工等領域,并成為眾多行業(yè)的質量檢測和控制的分析儀器。Microtrac Inc.公司非常注重技術創(chuàng)新,近半個世紀以來,一直*著激光粒度分析的前沿技術,可靠的產品和強大的應用支持及完善的售后服務,
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